However, this formula only gives th

However, this formula only gives the maximum number of dies per wafer.The critical question is: What is the fraction of good dies on a wafer, or the die yield? A simple model of integrated circuit yield, which assumes that defects are randomly distributed over the wafer and that yield is inversely proportional to the complexity of the fabrication process, leads to the following:

Kết quả (Việt) 1:

Tuy nhiên, công thức này chỉ cho tối đa số lượng chết mỗi wafer. Các câu hỏi quan trọng là: những gì là phần tốt chết trên một wafer, hoặc năng suất chết? Một mô hình đơn giản của năng suất mạch tích hợp, giả định rằng lỗi ngẫu nhiên được phân phối trên wafer và năng suất đó là tỷ lệ nghịch với sự phức tạp của quá trình sản xuất, dẫn đến những điều sau đây:

Kết quả (Việt) 2:

Tuy nhiên, công thức này chỉ cung cấp cho số lượng tối đa cho mỗi khuôn wafer.The câu hỏi quan trọng là: các phần của khuôn tốt trên wafer, hoặc năng suất chết là gì? Một mô hình đơn giản của năng suất mạch tích hợp, trong đó giả định rằng các khuyết tật được phân phối ngẫu nhiên trên wafer và năng suất đó là tỷ lệ nghịch với sự phức tạp của quá trình chế tạo, dẫn đến những điều sau đây: